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Characterization of PMMA/PVB blend films by means of AFM

Almeida, A.T.; Gliemann, H.; Schimmel, T.; Petri, D.F.S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110064813
HGF-Programm 43.03.03; LK 01
Erschienen in Microscopy and Microanalysis
Band 11
Seiten 122-25
Erscheinungsvermerk (2005) Suppl.03
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