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Damage analysis in Al thin films fatigued at ultrahigh frequencies

Eberl, C.; Spolenak, R.; Kraft, O.; Kubat, F.; Ruile, W.; Arzt, E.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.2189970
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Zitationen: 13
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110065011
HGF-Programm 43.03.02 (POF I, LK 01) Größenabhängige Eigenschaften
Erschienen in Journal of Applied Physics
Band 99
Seiten 113501/1-8
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