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Defect structure in micropillars using x-ray microdiffraction

Maaß, R.; Grolimund, D.; van Petegem, S.; Willimann, M.; Jensen, M.; van Swygenhoven, H.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.2358204
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Zitationen: 74
Web of Science
Zitationen: 75
Dimensions
Zitationen: 60
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110066035
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 89
Seiten 151905/1-3
Nachgewiesen in Dimensions
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