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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.2387900
Web of Science
Zitationen: 12

Determination and evolution of tunneling distances in Ge nanocrystal based memories

Beyer, V.; Borany, J.von; Klimenkov, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110066199
HGF-Programm 31.40.03; LK 01
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 89
Seiten 193505/1-3
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