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Thickness dependence of transformation characteristics of Ni-Mn-Ga thin films deposited on alumina: experiment and modeling

Chernenko, V. A. 1; Kohl, M. 1; Ohtsuka, M.; Takagi, T.; L'vov, V. A.; Kniazkyi, V. M.
1 Forschungszentrum Karlsruhe (FZKA)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.msea.2006.02.055
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Zitationen: 23
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Zitationen: 23
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110066775
HGF-Programm 43.01.06 (POF I, LK 01) Applikations-u.Transferlaboratorien
Erschienen in Materials Science and Engineering
Band 438-440
Seiten 944-47
Nachgewiesen in Web of Science
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