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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.msea.2006.02.055
Web of Science
Zitationen: 18

Thickness dependence of transformation characteristics of Ni-Mn-Ga thin films deposited on alumina: experiment and modeling

Chernenko, V.A.; Kohl, M.; Ohtsuka, M.; Takagi, T.; L'vov, V.A.; Kniazkyi, V.M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110066775
HGF-Programm 43.01.06; LK 01
Erschienen in Materials Science and Engineering
Band 438-440
Seiten 944-47
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