Error estimation in XRD crystallite size measurements

Pielaszek, R.; Lojkowski, W.; Gierlotka, S.; Doyle, S.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nanotechnologie (INT) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2006
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110066884
HGF-Programm	43.03.02 (POF I, LK 01) Größenabhängige Eigenschaften
Erschienen in	Solid State Phenomena
Band	114
Seiten	313-19

Seitenaufrufe: 22
seit 06.05.2018