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Error estimation in XRD crystallite size measurements

Pielaszek, R.; Lojkowski, W.; Gierlotka, S.; Doyle, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110066884
HGF-Programm 43.03.02; LK 01
Erschienen in Solid State Phenomena
Band 114
Seiten 313-19
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