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Process conditions in X-ray lithography for the fabrication of devices with sub-micron feature sizes

Mappes, T. 1; Achenbach, S. 1; Mohr, J. 1
1 Forschungszentrum Karlsruhe (FZKA)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00542-006-0182-3
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Zitationen: 20
Dimensions
Zitationen: 21
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110067907
HGF-Programm 43.04.04 (POF I, LK 01) Photonische Systeme
Erschienen in Microsystem Technologies
Band 13
Seiten 355-60
Nachgewiesen in Dimensions
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