KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
§
Postprint
DOI: 10.5445/IR/110069077
Veröffentlicht am 17.12.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927607082153

Analytical TEM investigation of size effects in SnO₂ nanoparticles produced by microwave plasma synthesis

Szabo, D.V.; Schlabach, S.; Ochs, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
URN: urn:nbn:de:swb:90-AAA1100690773
KITopen-ID: 110069077
HGF-Programm 43.03.06 (POF I, LK 01)
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Band 13
Seiten 430-431
Erscheinungsvermerk Suppl.S03
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page