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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.75.195426
Web of Science
Zitationen: 16

Ultrathin transition-metal oxide films. Thickness dependence of the electronic structure and local geometry in MnO

Nagel, M.; Biswas, I.; Nagel, P.; Pellegrin, E.; Schuppler, S.; Peisert, H.; Chasse, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110069223
HGF-Programm 52.01.01 (POF I, LK 01)
Erschienen in Physical Review B
Band 75
Seiten 195426/1-6
Nachgewiesen in Web of Science
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