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Ultrathin transition-metal oxide films. Thickness dependence of the electronic structure and local geometry in MnO

Nagel, M.; Biswas, I.; Nagel, P. 1; Pellegrin, E. 1; Schuppler, S. 1; Peisert, H.; Chasse, T.
1 Forschungszentrum Karlsruhe (FZKA)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.75.195426
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Zitationen: 20
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Zitationen: 22
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110069223
HGF-Programm 52.01.01 (POF I, LK 01) Elektr.Eigenschaften.Magnetismus u.SL
Erschienen in Physical Review B
Band 75
Seiten 195426/1-6
Nachgewiesen in Dimensions
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