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Imaging of thermal domains in ultrathin NbN films for hot electron bolometers

Doenitz, D.; Kleiner, R.; Koelle, D.; Scherer, T.; Schuster, K. F.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.2751109
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Zitationen: 11
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Zitationen: 9
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110069786
HGF-Programm 31.30.04 (POF I, LK 01) ECRH Heiz.u.Strombetr. Port Plug-Entw.
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 90
Seiten 252512/1-3
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