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Microanalysis (Micro-XRF, Micro-XANES, and Micro-XRD) of a tertiary sediment using Microfocused Synchrotron Radiation

Denecke, M. A. ; Somogyi, A.; Janssens, K.; Simon, R.; Dardenne, K. ORCID iD icon; Noseck, U.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927607070316
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Zitationen: 33
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Zitationen: 33
Dimensions
Zitationen: 32
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 06.2007
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276, 1435-8115
KITopen-ID: 110069795
HGF-Programm 32.27.04 (POF I, LK 01) Entwickl.u.Anpass.v.Speziationsmeth.
Erschienen in Microscopy and microanalysis
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 13
Heft 3
Seiten 165-172
Nachgewiesen in Scopus
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