KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927607070316
Scopus
Zitationen: 30
Web of Science
Zitationen: 28

Microanalysis (Micro-XRF, Micro-XANES, and Micro-XRD) of a tertiary sediment using Microfocused Synchrotron Radiation

Denecke, M.A.; Somogyi, A.; Janssens, K.; Simon, R.; Dardenne, K.; Noseck, U.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110069795
HGF-Programm 32.27.04 (POF I, LK 01)
Erschienen in Microscopy and Microanalysis
Band 13
Seiten 165-72
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page