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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1524/zkri.2007.2007.suppl_26.229

Texture of submicron Ni-Mb-Ga films studied by X-ray diffraction at the ANKA synchrotron source

Chernenko, V.A.; Doyle, S.; Kohl, M.; Müllner, P.; Besseghini, S.; Ohtsuka, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110070601
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01)
Erschienen in Zeitschrift für Kristallographie
Seiten 229-34
Erscheinungsvermerk Suppl.26(2007)
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