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Barium strontium titanate thick-films: dependency between dielectric performance and their morphology

Giere, A.; Zhou, X.; Paul, F.; Sazegar, M.; Zheng, Y.; Maune, H.; Binder, J.R.; Jakoby, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoffprozesstechnik (IMF3) (IMF3)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110072001
HGF-Programm 43.03.04; LK 01
Erschienen in Frequenz - Journal of RF-Engineering and Telecommunications
Band 62
Heft 3
Seiten 47-51
Erscheinungsvermerk -4
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