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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.scriptamat.2008.02.056
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Zitationen: 38

Validating grain size analysis from X-ray line broadening: a virtual experiment

Markmann, J.; Yamakov, V.; Weissmüller, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110072040
HGF-Programm 43.03.06 (POF I, LK 01)
Erschienen in Scripta Materialia
Band 59
Seiten 15-18
Nachgewiesen in Scopus
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