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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1140/epjst/e2008-00660-8
Web of Science
Zitationen: 19

Residual stress in Ni-Mn-Ga thin films deposited on different substrates

Doyle, S.; Chernenko, V.A.; Besseghini, S.; Gambardella, A.; Kohl, M.; Müllner, P.; Ohtsuka, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110072623
HGF-Programm 43.01.01; LK 01
Erschienen in European Physical Journal - Special Topics
Band 158
Seiten 99-105
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