Residual stress in Ni-Mn-Ga thin films deposited on different substrates
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110072623 |
| HGF-Programm | 43.01.01 (POF I, LK 01) Lithographie |
| Erschienen in | European Physical Journal - Special Topics |
| Band | 158 |
| Seiten | 99-105 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus OpenAlex |