KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.2742285
Scopus
Zitationen: 28
Web of Science
Zitationen: 25

Dependence of the electromigration flux on the crystallographic orientations of different grains in polycrystalline copper interconnects

Choi, Zung-Sun; Mönig, Reiner; Thompson, Carl V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Werkstoff- und Biomechanik (IMF2) (IMF2)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951, 1077-3118
KITopen-ID: 110073207
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01)
Erschienen in Applied physics letters
Band 90
Heft 24
Seiten Art. Nr. 241913
Erscheinungsvermerk (2007)
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page