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Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples

Lübbert, D. 1; Baumbach, T. 1; Holy, V.; Mikulik, P.; Helfen, L. 1; Pernot, P. 1; Elyyan, M. 1; Keller, S.; Katona, T. M.; DenBaars, S. P.; Speck, J. S.
1 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1209/0295-5075/82/56002
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Zitationen: 1
Dimensions
Zitationen: 1
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110073529
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erschienen in EPL
Band 82
Seiten 56002/1-2
Nachgewiesen in Dimensions
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