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Microdiffraction imaging of dislocation densities in microstructured samples

Lübbert, D.; Baumbach, T.; Holy, V.; Mikulik, P.; Helfen, L.; Pernot, P.; Elyyan, M.; Keller, S.; Katona, T.M.; DenBaars, S.P.; Speck, J.S.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1209/0295-5075/82/56002
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110073529
HGF-Programm 43.01.05 (POF I, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erschienen in EPL
Band 82
Seiten 56002/1-2
Nachgewiesen in Scopus
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