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Variable incidence angle X-ray absorption fine structure spectroscopy: a zirconia film study

Degueldre, C.; Kastoryano, M.; Dardenne, K.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.talanta.2008.04.043
Scopus
Zitationen: 2
Web of Science
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110073963
HGF-Programm 32.27.04 (POF I, LK 01)
Erschienen in Talanta
Band 76
Seiten 731-35
Nachgewiesen in Web of Science
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