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Variable incidence angle X-ray absorption fine structure spectroscopy: a zirconia film study

Degueldre, C.; Kastoryano, M.; Dardenne, K. ORCID iD icon 1
1 Institut für Nukleare Entsorgung (INE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.talanta.2008.04.043
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Zitationen: 2
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110073963
HGF-Programm 32.27.04 (POF I, LK 01) Entwickl.u.Anpass.v.Speziationsmeth.
Erschienen in Talanta
Band 76
Seiten 731-35
Nachgewiesen in Dimensions
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