KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.talanta.2008.04.043
Web of Science
Zitationen: 2

Variable incidence angle X-ray absorption fine structure spectroscopy: a zirconia film study

Degueldre, C.; Kastoryano, M.; Dardenne, K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nukleare Entsorgung (INE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110073963
HGF-Programm 32.27.04; LK 01
Erschienen in Talanta
Band 76
Seiten 731-35
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page