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Direct strain and elastic energy evaluation in rolled-up semiconductor tubes by X-ray microdiffraction

Malachias, A.; Deneke, Ch.; Krause, B. ORCID iD icon 1; Mocuta, C.; Kiravittaya, S.; Metzger, T. H.; Schmidt, O. G.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.79.035301
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110074662
HGF-Programm 43.04.03 (POF II, LK 01) Röntgenoptik
Erschienen in Physical Review B
Band 79
Seiten 035301/1-12
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