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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.jnucmat.2008.11.029
Web of Science
Zitationen: 36

High resolution transmission electron microscopy and electron backscatter diffraction in nanoscaled ferritic and ferritic-martensitic oxide dispersion strengthened-steels

Eiselt, C.C.; Klimenkov, M.; Lindau, R.; Möslang, A.; Sandim, H.R.Z.; Padilha, A.F.; Raabe, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110074878
HGF-Programm 31.40.03 (POF II, LK 01)
Erschienen in Journal of Nuclear Materials
Band 385
Seiten 231-35
Nachgewiesen in Web of Science
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