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High resolution transmission electron microscopy and electron backscatter diffraction in nanoscaled ferritic and ferritic-martensitic oxide dispersion strengthened-steels

Eiselt, C. C. 1; Klimenkov, M. 1; Lindau, R. 1; Möslang, A. 1; Sandim, H. R. Z.; Padilha, A. F.; Raabe, D.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.jnucmat.2008.11.029
Scopus
Zitationen: 47
Web of Science
Zitationen: 45
Dimensions
Zitationen: 46
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Materialforschung - Angewandte Werkstoffphysik (IMF1) (IMF1)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110074878
HGF-Programm 31.40.03 (POF II, LK 01) Materialentwicklung
Erschienen in Journal of Nuclear Materials
Band 385
Seiten 231-35
Nachgewiesen in Scopus
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Dimensions
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