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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/0957-4484/20/26/264006
Web of Science
Zitationen: 7

Ab initio simulation of atomic-scale imaging in noncontact atomic force microscopy

Caciuc, V.; Hölscher, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110075635
HGF-Programm 43.03.09 (POF II, LK 01)
Erschienen in Nanotechnology
Band 20
Seiten 264006/1-9
Nachgewiesen in Web of Science
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