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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.actamat.2008.12.011
Web of Science
Zitationen: 45

Atomistic origin of microstrain broadening in diffraction data of nanocrystalline solids

Stukowski, A.; Markmann, J.; Weissmüller, J.; Albe, K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110075832
HGF-Programm 43.03.04; LK 01
Erschienen in Acta Materialia
Band 57
Seiten 1648-54
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