KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2009.2018048
Web of Science
Zitationen: 13

Power hardware-in-the-loop testing of a YBCO coated conductor fault current limiting module

Schacherer, C.; Langston, J.; Steurer, M.; Noe, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110076232
HGF-Programm 34.03.02; LK 01
Erschienen in IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Band 19
Seiten 1801-05
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page