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Power hardware-in-the-loop testing of a YBCO coated conductor fault current limiting module

Schacherer, C. 1; Langston, J.; Steurer, M.; Noe, M. ORCID iD icon 1
1 Institut für Technische Physik (ITEP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2009.2018048
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Zitationen: 19
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Zitationen: 17
Dimensions
Zitationen: 18
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110076232
HGF-Programm 34.03.02 (POF II, LK 01) Netzbetriebsmittel
Erschienen in IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Band 19
Seiten 1801-05
Nachgewiesen in Dimensions
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