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Power hardware-in-the-loop testing of a YBCO coated conductor fault current limiting module

Schacherer, C.; Langston, J.; Steurer, M.; Noe, M.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2009.2018048
Scopus
Zitationen: 15
Web of Science
Zitationen: 14
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110076232
HGF-Programm 34.03.02 (POF II, LK 01)
Erschienen in IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Band 19
Seiten 1801-05
Nachgewiesen in Web of Science
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