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Inverse geometry for grating-based x-ray phase-contrast imaging

Donath, T.; Chabior, M.; Pfeiffer, F.; Bunk, O.; Reznikova, E. 1; Mohr, J. 1; Hempel, E.; Popescu, S.; Hoheisel, M.; Schuster, M.; Baumann, J.; David, C.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3208052
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Zitationen: 136
Web of Science
Zitationen: 132
Dimensions
Zitationen: 134
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110076839
HGF-Programm 43.04.03 (POF II, LK 01) Röntgenoptik
Erschienen in Journal of Applied Physics
Band 106
Seiten 054703/1-7
Nachgewiesen in Scopus
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