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Inverse geometry for grating-based x-ray phase-contrast imaging

Donath, T.; Chabior, M.; Pfeiffer, F.; Bunk, O.; Reznikova, E.; Mohr, J.; Hempel, E.; Popescu, S.; Hoheisel, M.; Schuster, M.; Baumann, J.; David, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110076839
HGF-Programm 43.04.03; LK 01
Erschienen in Journal of Applied Physics
Band 106
Seiten 054703/1-7
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