Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 2009 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 110077773 |
HGF-Programm | 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
Erschienen in | Ultramicroscopy |
Band | 109 |
Seiten | 230-36 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |