Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 2009 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | KITopen-ID: 110077774 |
HGF-Programm | 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
Erschienen in | Praktische Metallographie - Practical Metallography |
Band | 46 |
Seiten | 236-51 |