3D imaging of nanomaterials by discrete tomography
Batenburg, K. J.; Bals, S.; Sijbers, J.; Kübel, C.
; Midgley, P. A.; Hernandez, J. C.; Kaiser, U.; Encina, E. R.; Coronado, E. A.; Tendeloo, G. van
; Midgley, P. A.; Hernandez, J. C.; Kaiser, U.; Encina, E. R.; Coronado, E. A.; Tendeloo, G. van
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110077777 |
| HGF-Programm | 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
| Erschienen in | Ultramicroscopy |
| Band | 109 |
| Seiten | 730-40 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |