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3D imaging of nanomaterials by discrete tomography

Batenburg, K. J.; Bals, S.; Sijbers, J.; Kübel, C. ORCID iD icon; Midgley, P. A.; Hernandez, J. C.; Kaiser, U.; Encina, E. R.; Coronado, E. A.; Tendeloo, G. van


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2009.01.009
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Zitationen: 227
Web of Science
Zitationen: 210
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Zitationen: 230
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110077777
HGF-Programm 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 109
Seiten 730-40
Nachgewiesen in Web of Science
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