Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG) Institut für Nanotechnologie (INT) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 2009 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 110077832 |
HGF-Programm | 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
Erschienen in | Applied Clay Science |
Band | 46 |
Seiten | 185-89 |
Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |