| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG) Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110077832 |
| HGF-Programm | 43.01.05 (POF II, LK 01) Charakterisierung u.Zuverlässigkeit |
| Erschienen in | Applied Clay Science |
| Band | 46 |
| Seiten | 185-89 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions OpenAlex |