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Electron mobility variations in surface-charged indium tin oxide thin films

Dasgupta, S. 1; Lukas, M. 1; Dössel, K. 1; Kruk, R. 1; Hahn, H. 1
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.80.085425
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Zitationen: 22
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Zitationen: 22
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110077853
HGF-Programm 43.03.04 (POF II, LK 01) Steuerbare Materialien
Erschienen in Physical Review B
Band 80
Seiten 085425/1-8
Nachgewiesen in Dimensions
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