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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.80.085425
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Zitationen: 17
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Zitationen: 16

Electron mobility variations in surface-charged indium tin oxide thin films

Dasgupta, S.; Lukas, M.; Dössel, K.; Kruk, R.; Hahn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110077853
HGF-Programm 43.03.04 (POF II, LK 01)
Erschienen in Physical Review B
Band 80
Seiten 085425/1-8
Nachgewiesen in Web of Science
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