Imaging defects and junctions in single-walled carbon nanotubes by voltage-contrast scanning electron microscopy

Vijayaraghavan, A.; Marquardt, C. W.; Dehm, S.; Hennrich, F.; Krupke, R.

doi:10.1016/j.carbon.2009.09.067

Imaging defects and junctions in single-walled carbon nanotubes by voltage-contrast scanning electron microscopy

Vijayaraghavan, A. ¹; Marquardt, C. W. ¹^,2; Dehm, S. ¹; Hennrich, F. ¹; Krupke, R. ¹^,3
¹ Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
² Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
³ Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Externe Links

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.carbon.2009.09.067

Scopus
Zitationen: 22

Web of Science
Zitationen: 20

Dimensions
Zitationen: 21

Export

Statistiken

Seitenaufrufe: 48
seit 07.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110078487
HGF-Programm	43.11.02 (POF II, LK 01) Electronic transport in nanostructures
Erschienen in	Carbon
Band	48
Seiten	494-500
Nachgewiesen in	Scopus Dimensions Web of Science

Repository KITopen

Imaging defects and junctions in single-walled carbon nanotubes by voltage-contrast scanning electron microscopy