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Imaging defects and junctions in single-walled carbon nanotubes by voltage-contrast scanning electron microscopy

Vijayaraghavan, A.; Marquardt, C.W.; Dehm, S.; Hennrich, F.; Krupke, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1016/j.carbon.2009.09.067
KITopen ID: 110078487
HGF-Programm 43.11.02; LK 01
Erschienen in Carbon
Band 48
Seiten 494-500
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