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Imaging defects and junctions in single-walled carbon nanotubes by voltage-contrast scanning electron microscopy

Vijayaraghavan, A. 1; Marquardt, C. W. 1,2; Dehm, S. 1; Hennrich, F. 1; Krupke, R. 1,3
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.carbon.2009.09.067
Scopus
Zitationen: 21
Web of Science
Zitationen: 19
Dimensions
Zitationen: 20
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110078487
HGF-Programm 43.11.02 (POF II, LK 01) Electronic transport in nanostructures
Erschienen in Carbon
Band 48
Seiten 494-500
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
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