Imaging defects and junctions in single-walled carbon nanotubes by voltage-contrast scanning electron microscopy
Vijayaraghavan, A. 1; Marquardt, C. W. 1,2; Dehm, S. 1; Hennrich, F. 1; Krupke, R.
1,3
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1,31 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
3 Center for Functional Nanostructures (CFN), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110078487 |
| HGF-Programm | 43.11.02 (POF II, LK 01) Electronic transport in nanostructures |
| Erschienen in | Carbon |
| Band | 48 |
| Seiten | 494-500 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science OpenAlex Dimensions |