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Application of capacitance-voltage measurements to the determination of interface roughness in nanoparticulate field-effect transistors

Okamura, K.; Nikolova, D.; Mechau, N.; Hahn, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1002/pssa.200983737
KITopen ID: 110080150
HGF-Programm 43.12.02; LK 01
Erschienen in Physica status solidi (a)
Band 207
Seiten 1672-76
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