Application of capacitance-voltage measurements to the determination of interface roughness in nanoparticulate field-effect transistors
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110080150 |
| HGF-Programm | 43.12.02 (POF II, LK 01) Tuneable properties of nanomaterials |
| Erschienen in | Physica status solidi (a) |
| Band | 207 |
| Seiten | 1672-76 |
| Nachgewiesen in | Scopus OpenAlex Dimensions Web of Science |