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Directional X-ray dark-field imaging of strongly ordered systems

Jensen, T. H.; Bech, M.; Zanette, I.; Weitkamp, T.; David, C.; Deyle, H.; Rutishauser, S.; Reznikova, E. 1; Mohr, J. 1; Feidenhans, R.; Pfeiffer, F.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.82.214103
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Zitationen: 70
Dimensions
Zitationen: 75
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110081230
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erschienen in Physical Review B
Band 82
Seiten 214103/1-8
Nachgewiesen in Dimensions
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