Directional X-ray dark-field imaging of strongly ordered systems

Jensen, T. H.; Bech, M.; Zanette, I.; Weitkamp, T.; David, C.; Deyle, H.; Rutishauser, S.; Reznikova, E.; Mohr, J.; Feidenhans, R.; Pfeiffer, F.

doi:10.1103/PhysRevB.82.214103

Directional X-ray dark-field imaging of strongly ordered systems

Jensen, T. H.; Bech, M.; Zanette, I.; Weitkamp, T.; David, C.; Deyle, H.; Rutishauser, S.; Reznikova, E. ¹; Mohr, J. ¹; Feidenhans, R.; Pfeiffer, F.
¹ Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110081230
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erschienen in	Physical Review B
Band	82
Seiten	214103/1-8
Nachgewiesen in	Web of Science OpenAlex Scopus Dimensions

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DOI: 10.1103/PhysRevB.82.214103

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