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Trap states and space charge limited current in dispersion processed zinc oxide thin films

Bubel, S.; Mechau, N.; Hahn, H.; Schmechel, R.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3524184
Scopus
Zitationen: 23
Web of Science
Zitationen: 18
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110081433
HGF-Programm 43.12.02 (POF II, LK 01)
Erschienen in Journal of Applied Physics
Band 108
Seiten 124502/1-6
Nachgewiesen in Web of Science
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