KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

X-ray diffraction imaging of dislocation generation related to microcracks in Si wafers

Wittge, J.; Danilewsky, A.; Allen, D.; McNally, P.; Li, Z.J.; Baumbach, T.; Gorostegui-Colinas, E.; Garagorri, J.; Elizalde, M.R.; Jacques, D.; Fossati, M.C.; Bowen, D.K.; Tanner, B.K.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1154/1.3392369
KITopen ID: 110081701
HGF-Programm 55.51.20; LK 02
Erschienen in Powder Diffraction
Band 25
Seiten 99-103
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page