KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

X-ray diffuse scattering from threading dislocations in epitaxial GaN layers

Barchuk, M. 1; Holy, V.; Miljevic, B. 1; Krause, B. 1; Baumbach, T. 1; Hertkorn, J.; Scholz, F.
1 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3460803
Scopus
Zitationen: 41
Web of Science
Zitationen: 42
Dimensions
Zitationen: 39
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Synchrotronstrahlung (ISS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110081717
HGF-Programm 43.04.03 (POF II, LK 01) Röntgenoptik
Erschienen in Journal of Applied Physics
Band 108
Seiten 043521/1-7
Nachgewiesen in Dimensions
Scopus
Web of Science
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page