Dislocation generation related to micro-cracks in Si wafers: High temperature in-situ study with white beam X-ray topography
Danilewsky, A. N.; Wittge, J.; Hess, A.; Cröll, A.; Allen, D.; McNally, P. J.; Vagovic, P. 1; Cecilia, A. 1; Li, Z.
1; Baumbach, T. 1; Gorostegui-Colinas, E.; Elizalde, M.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Baumbach, T. 1; Gorostegui-Colinas, E.; Elizalde, M.1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Synchrotronstrahlung (ISS) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2010 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110081811 |
| HGF-Programm | 55.51.20 (POF II, LK 02) Infrastr.u.Betrieb ANKA-Beschleunigeranl |
| Erschienen in | Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B |
| Band | 268 |
| Seiten | 399-402 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Web of Science Dimensions Scopus |