Characterization of triboelectrically charged particles deposited on dielectric surfaces

Nesterov, A.; Löffler, F.; Cheng, Y. C.; Torralba, G.; König, K.; Hausmann, M.; Lindenstruth, V.; Stadler, V.; Bischoff, F. R.; Breitling, F.

doi:10.1088/0022-3727/43/16/165301

Characterization of triboelectrically charged particles deposited on dielectric surfaces

Nesterov, A. ¹; Löffler, F.; Cheng, Y. C.; Torralba, G.; König, K.; Hausmann, M.; Lindenstruth, V.; Stadler, V.; Bischoff, F. R.; Breitling, F. ¹
¹ Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1088/0022-3727/43/16/165301

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110081922
HGF-Programm	47.01.03 (POF II, LK 01) Biologische Schlüselmoleküle IMT
Erschienen in	Journal of Physics D
Band	43
Seiten	165301/1-6
Nachgewiesen in	Dimensions Web of Science Scopus

Repository KITopen

Characterization of triboelectrically charged particles deposited on dielectric surfaces