Quality analysis of selective microparticle deposition on electrically programmable surfaces

Wagner, J.; Löffler, F.; König, K.; Fernandez, S.; Nesterov-Müller, A.; Breitling, F.; Bischoff, F. R.; Stadler, V.; Hausmann, M.; Lindenstruth, V.

doi:10.1063/1.3456986

Quality analysis of selective microparticle deposition on electrically programmable surfaces

Wagner, J.; Löffler, F.; König, K.; Fernandez, S.; Nesterov-Müller, A. ¹; Breitling, F. ¹; Bischoff, F. R. ¹; Stadler, V. ¹; Hausmann, M.; Lindenstruth, V.
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1063/1.3456986

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2010
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110081974
HGF-Programm	47.01.03 (POF II, LK 01) Biologische Schlüselmoleküle IMT
Erschienen in	Review of Scientific Instruments
Band	81
Seiten	973703/1-6
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus Web of Science

Repository KITopen

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