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In situ nanomechanical testing in focused ion beam and scanning electron microscopes

Gianola, D.S.; Sedlmayr, A.; Mönig, R.; Volkert, C.A.; Major, R.C.; Cyrankowski, E.; Asif, S.A.S.; Warren, O.L.; Kraft, O.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3595423
Scopus
Zitationen: 66
Web of Science
Zitationen: 59
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110083348
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01)
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 82
Seiten 063901/1-12
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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