In situ nanomechanical testing in focused ion beam and scanning electron microscopes

Gianola, D. S.; Sedlmayr, A.; Mönig, R.; Volkert, C. A.; Major, R. C.; Cyrankowski, E.; Asif, S. A. S.; Warren, O. L.; Kraft, O.

doi:10.1063/1.3595423

In situ nanomechanical testing in focused ion beam and scanning electron microscopes

Gianola, D. S. ¹; Sedlmayr, A. ¹; Mönig, R. ¹; Volkert, C. A.; Major, R. C.; Cyrankowski, E.; Asif, S. A. S.; Warren, O. L.; Kraft, O. ¹
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Externe Links

Download

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3595423

Scopus
Zitationen: 91

Web of Science
Zitationen: 83

Dimensions
Zitationen: 91

Export

Statistiken

Seitenaufrufe: 25
seit 03.08.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110083348
HGF-Programm	43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erschienen in	Review of Scientific Instruments
Band	82
Seiten	063901/1-12
Nachgewiesen in	Dimensions Web of Science Scopus

Repository KITopen

In situ nanomechanical testing in focused ion beam and scanning electron microscopes