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In situ nanomechanical testing in focused ion beam and scanning electron microscopes

Gianola, D. S. 1; Sedlmayr, A. 1; Mönig, R. 1; Volkert, C. A.; Major, R. C.; Cyrankowski, E.; Asif, S. A. S.; Warren, O. L.; Kraft, O. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3595423
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Zitationen: 88
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110083348
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 82
Seiten 063901/1-12
Nachgewiesen in Dimensions
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