KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

In situ nanomechanical testing in focused ion beam and scanning electron microscopes

Gianola, D.S.; Sedlmayr, A.; Mönig, R.; Volkert, C.A.; Major, R.C.; Cyrankowski, E.; Asif, S.A.S.; Warren, O.L.; Kraft, O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110083348
HGF-Programm 43.12.03; LK 01
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 82
Seiten 063901/1-12
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page