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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2010.2095401

Test arrangement for the W7-X HTS-current lead prototype testing

Fietz, W.H.; Drotziger, S.; Fink, S.; Heiduk, M.; Heller, R.; Kopmann, A.; Lange, C.; Lietzow, R.; Möhring, T.; Rohr, P.; Rummel, T.; Süßer, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110083685
HGF-Programm 31.20.70; LK 01
Erschienen in IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Band 21
Seiten 1058-1061
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