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Test arrangement for the W7-X HTS-current lead prototype testing

Fietz, W. H. 1; Drotziger, S. 1; Fink, S. 1; Heiduk, M. 1; Heller, R. 1; Kopmann, A. ORCID iD icon 1; Lange, C. 1; Lietzow, R. 1; Möhring, T. 1; Rohr, P. 1; Rummel, T.; Süßer, M.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2010.2095401
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110083685
HGF-Programm 31.20.70 (POF II, LK 01) MRS-Technik für ECRH an W7-X, Spulentest
Erschienen in IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Band 21
Seiten 1058-1061
Nachgewiesen in Dimensions
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