KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Test arrangement for the W7-X HTS-current lead prototype testing

Fietz, W.H.; Drotziger, S.; Fink, S.; Heiduk, M.; Heller, R.; Kopmann, A.; Lange, C.; Lietzow, R.; Möhring, T.; Rohr, P.; Rummel, T.; Süßer, M.

Open Access Logo


Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2010.2095401
Scopus
Zitationen: 11
Web of Science
Zitationen: 9
Dimensions
Zitationen: 11
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110083685
HGF-Programm 31.20.70 (POF II, LK 01) MRS-Technik für ECRH an W7-X, Spulentest
Erschienen in IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Band 21
Seiten 1058-1061
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page