Test arrangement for the W7-X HTS-current lead prototype testing
Fietz, W. H. 1; Drotziger, S. 1; Fink, S.
1; Heiduk, M. 1; Heller, R. 1; Kopmann, A.
1; Lange, C. 1; Lietzow, R. 1; Möhring, T. 1; Rohr, P. 1; Rummel, T.; Süßer, M.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Heiduk, M. 1; Heller, R. 1; Kopmann, A.
1; Lange, C. 1; Lietzow, R. 1; Möhring, T. 1; Rohr, P. 1; Rummel, T.; Süßer, M.1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) Institut für Technische Physik (ITEP) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110083685 |
| HGF-Programm | 31.20.70 (POF II, LK 01) MRS-Technik für ECRH an W7-X, Spulentest |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Applied Superconductivity |
| Band | 21 |
| Seiten | 1058-1061 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |