Analysis of bulk and thin film model samples intended foriInvestigating the strain sensitivity of niobium-tin

Mentink, M. G. T.; Anders, A.; Dhalle, M. M. J.; Dietderich, D. R.; Godeke, A.; Goldacker, W.; Hellman, F.; ten Kate, H. H. J.; Putnam, D.; Slack, J. L.; Sumption, M. D.; Susner, M.

doi:10.1109/TASC.2010.2087373

Analysis of bulk and thin film model samples intended foriInvestigating the strain sensitivity of niobium-tin

Mentink, M. G. T.; Anders, A. ¹; Dhalle, M. M. J.; Dietderich, D. R.; Godeke, A.; Goldacker, W. ¹; Hellman, F.; ten Kate, H. H. J.; Putnam, D.; Slack, J. L.; Sumption, M. D.; Susner, M.
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1109/TASC.2010.2087373

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2011
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110083689
HGF-Programm	34.03.01 (POF II, LK 01) Hochstromsupraleiter
Erschienen in	IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Band	21
Seiten	2550-2553
Nachgewiesen in	Dimensions Web of Science Scopus

Repository KITopen

Analysis of bulk and thin film model samples intended foriInvestigating the strain sensitivity of niobium-tin