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Analysis of bulk and thin film model samples intended foriInvestigating the strain sensitivity of niobium-tin

Mentink, M. G. T.; Anders, A. 1; Dhalle, M. M. J.; Dietderich, D. R.; Godeke, A.; Goldacker, W. 1; Hellman, F.; ten Kate, H. H. J.; Putnam, D.; Slack, J. L.; Sumption, M. D.; Susner, M.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2010.2087373
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Zitationen: 7
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Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110083689
HGF-Programm 34.03.01 (POF II, LK 01) Hochstromsupraleiter
Erschienen in IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Band 21
Seiten 2550-2553
Nachgewiesen in Web of Science
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