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Analysis of bulk and thin film model samples intended foriInvestigating the strain sensitivity of niobium-tin

Mentink, M.G.T.; Anders, A.; Dhalle, M.M.J.; Dietderich, D.R.; Godeke, A.; Goldacker, W.; Hellman, F.; ten Kate, H.H.J.; Putnam, D.; Slack, J.L.; Sumption, M.D.; Susner, M.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TASC.2010.2087373
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Zitationen: 7
Web of Science
Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Physik (ITEP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110083689
HGF-Programm 34.03.01 (POF II, LK 01)
Erschienen in IEEE Transactions on Applied Superconductivity
Band 21
Seiten 2550-2553
Nachgewiesen in Web of Science
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