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Comparative height measurements of dip-pen nanolithography-produced lipid membrane stacks with atomic force, fluorescence, and surface-enhanced ellipsometric contrast microscopy

Hirtz, M. ORCID iD icon 1; Corso, R.; Sekula-Neuner, S. 1; Fuchs, H. 1
1 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1021/la202703j
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Zitationen: 30
Web of Science
Zitationen: 32
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Zitationen: 32
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110083898
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials
Erschienen in Langmuir
Band 27
Seiten 11605-11608
Nachgewiesen in Scopus
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