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Comparative height measurements of dip-pen nanolithography-produced lipid membrane stacks with atomic force, fluorescence, and surface-enhanced ellipsometric contrast microscopy

Hirtz, M.; Corso, R.; Sekula-Neuner, S.; Fuchs, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110083898
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01)
Erschienen in Langmuir
Band 27
Seiten 11605-11608
Nachgewiesen in Scopus
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