A novel high-throughput fatigue testing method for metallic thin films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110084470 |
| HGF-Programm | 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials |
| Erschienen in | Science and Technology of Advanced Materials |
| Band | 12 |
| Seiten | 054202/1-7 |
| Nachgewiesen in | Web of Science OpenAlex Dimensions Scopus |