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Strain mapping of a triple junction in nanocrystalline Pd

Rösner, H.; Kübel, C. ORCID iD icon 1,2; Ivanisenko, Y. 1; Kurmanaeva, L. 1; Divinski, S. V.; Peterlechner, M.; Wilde, G.
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.actamat.2011.08.020
Scopus
Zitationen: 35
Web of Science
Zitationen: 29
Dimensions
Zitationen: 32
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110084569
HGF-Programm 43.16.02 (POF II, LK 02) KNMF laboratory for microscopy a.spect.
Erschienen in Acta Materialia
Band 59
Seiten 7380-7387
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
Web of Science
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