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In-situ diagnostics of the development of surface waviness due to treatment with an intense pulsed electron beam

An, W.; Fetzer, R.; Mueller, G.; Weisenburger, A.; Engelko, V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 110085081
HGF-Programm 32.23.02; LK 01
Erschienen in Journal of the Korean Physical Society
Band 59
Seiten 3481-3484
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