Electronic origin of structure and mechanical properties in Y and Nb alloyed Ti-Al-N thin films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2011 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 110085798 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erschienen in | International Journal of Materials Research |
| Band | 102 |
| Seiten | 735-742 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Web of Science Scopus |