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Fizeau interferometer system for fast high resolution studies of spectral line shapes

Novak, O.; Falconer, I.S.; Sangines, R.; Lattemann, M.; Tarrant, R.N.; McKenzie, D.R.; Bilek, M.M.M.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3525102
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Zitationen: 1
Web of Science
Zitationen: 3
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110085803
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 82
Seiten 023105/1-10
Nachgewiesen in Scopus
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