KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Fizeau interferometer system for fast high resolution studies of spectral line shapes

Novak, O.; Falconer, I. S.; Sangines, R.; Lattemann, M. 1; Tarrant, R. N.; McKenzie, D. R.; Bilek, M. M. M.
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3525102
Scopus
Zitationen: 3
Web of Science
Zitationen: 5
Dimensions
Zitationen: 4
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110085803
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 82
Seiten 023105/1-10
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page