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Focus Issue on Instrumented Identation [Editorial]

Kwon, D.; Chaudhri, M. M.; Cheng, Y. T.; Kraft, O. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1557/jmr.2011.419
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Zitationen: 27
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Werkstoff- und Biomechanik (IAM-WBM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0884-2914
KITopen-ID: 110086359
HGF-Programm 43.12.03 (POF II, LK 01) Reliability of nanomaterials
Erschienen in Journal of Materials Research
Verlag Cambridge University Press (CUP)
Band 27
Heft 1
Seiten 1
Nachgewiesen in Dimensions
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