Characterization of non-stoichiometric co-sputtered Ba₀̣₆Sr₀̣₄(Ti₁₋ₓFeₓ)₁₊ₓO₃₋sub(δ) thin films for tunable passive microwave applications

Stemme, F.; Geßwein, H.; Drahus, M.D.; Holländer, B.; Azucena, C.; Binder, J.R.; Eichel, R.A.; Haußelt, J.; Bruns, M.

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s00216-011-5435-z

Scopus
Zitationen: 3

Web of Science
Zitationen: 3

Seitenaufrufe: 3
seit 28.04.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG) Institut für Angewandte Materialien - Werkstoffprozesstechnik (IAM-WPT)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Jahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110086827
HGF-Programm	43.16.02 (POF II, LK 02)
Erschienen in	Analytical and Bioanalytical Chemistry
Band	403
Seiten	643-650
Nachgewiesen in	Scopus Web of Science