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Characterization and low-temperature resistivity of thin CeJn₃ films prepared by co-sputtering

Zaitsev, A.G.; Beck, A.; Fuchs, D.; Fromknecht, R.; Wissinger, M.; Schneider, R.; Geerk, J.; Löhneysen, H.von



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s10909-012-0625-4
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seit 28.04.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 110087336
HGF-Programm 43.11.01 (POF II, LK 01)
Erschienen in Journal of Low Temperature Physics
Band 168
Seiten 90-97
Nachgewiesen in Web of Science
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