Characterization and low-temperature resistivity of thin CeJn₃ films prepared by co-sputtering

Zaitsev, A. G.; Beck, A.; Fuchs, D.; Fromknecht, R.; Wissinger, M.; Schneider, R.; Geerk, J.; Löhneysen, H. von

doi:10.1007/s10909-012-0625-4

Characterization and low-temperature resistivity of thin CeJn₃ films prepared by co-sputtering

Zaitsev, A. G. ¹; Beck, A. ¹; Fuchs, D. ¹; Fromknecht, R. ¹; Wissinger, M. ¹; Schneider, R. ¹; Geerk, J. ¹; Löhneysen, H. von ¹^,2
¹ Institut für Festkörperphysik (IFP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
² Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1007/s10909-012-0625-4

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Festkörperphysik (IFP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 110087336
HGF-Programm	43.11.01 (POF II, LK 01) Condensed matter
Erschienen in	Journal of Low Temperature Physics
Band	168
Seiten	90-97
Nachgewiesen in	Scopus Dimensions Web of Science

Repository KITopen

Characterization and low-temperature resistivity of thin CeJn₃ films prepared by co-sputtering